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鍍層分析儀,X射線熒光測厚儀適用于鍍層厚度測量及材料分析，具有無損，可靠，高生產(chǎn)力，高靈活性等優(yōu)點(diǎn)，可用來定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量，廣泛應(yīng)用于電路板、半導(dǎo)體、電鍍、五金產(chǎn)品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等工業(yè)中的功能性鍍層電鍍槽液中的成分濃度分析。
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