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簡(jiǎn)要描述：鍍層作為保證電子行業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量可靠性和穩(wěn)定性的主要工藝，其厚度是產(chǎn)品質(zhì)量的最重要保證因素，因此，對(duì)鍍層厚度的質(zhì)量控制/保證至關(guān)重要，X射線熒光（XRF）因?yàn)槠浞瞧茐男浴y(cè)量快速、易于使用，已成為一種廣泛使用的鍍層厚度和成分測(cè)量技術(shù)。
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曉INSIGHT專為微光斑和超薄鍍層分析而設(shè)計(jì)，可提供極高的計(jì)數(shù)率，用于測(cè)量小于 50 μm 的特征上的納米級(jí)鍍層，并提供高精度的檢測(cè)結(jié)果，同時(shí)保持較短的測(cè)量時(shí)間，這借助于其內(nèi)部采用高強(qiáng)度毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度的檢測(cè)器。幫助諸多的PCB、半導(dǎo)體等電子相關(guān)行業(yè)輕松應(yīng)對(duì)超薄鍍層帶來(lái)的檢測(cè)挑戰(zhàn)，有效提高生產(chǎn)力，確保符合規(guī)范，以避免出現(xiàn)性能低下的風(fēng)險(xiǎn)以及與廢料或返工相關(guān)的成本。
使用優(yōu)勢(shì)
多準(zhǔn)直器組件
可選配多準(zhǔn)直器組合自動(dòng)切換，使得曉INSIGHT的多功能性得以顯著提升，以靈活應(yīng)對(duì)不同尺寸的零件。
上照式設(shè)計(jì)
儀器采用上照式設(shè)計(jì)，可輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)超大型、不規(guī)則、微小件、甚至液體形態(tài)樣品的快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效測(cè)量。
高強(qiáng)度X射線管
曉INSIGHT可選配高強(qiáng)度毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)，可為儀器帶來(lái)更高的計(jì)數(shù)率、 更小的點(diǎn)位測(cè)量，更薄的鍍層測(cè)量，有助于將儀器的分析效率翻倍。
可編程自動(dòng)位移樣品臺(tái)
選配自動(dòng)平臺(tái)，輕松實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量，可以更快的準(zhǔn)備和測(cè)量樣品，從而提高分析量。
一鍵式測(cè)量
配備直觀而智能的分析軟件，操作簡(jiǎn)單，任何人無(wú)需培訓(xùn)都可以測(cè)試樣品，僅僅需要點(diǎn)擊“開(kāi)始測(cè)試”，數(shù)十秒即可獲得檢測(cè)結(jié)果啦。
提高生產(chǎn)力
曉INSIGHT自動(dòng)化功能幫助您可以更快地測(cè)量樣品，從而提高您的分析量。
超大測(cè)量室
儀器殼體的開(kāi)槽設(shè)計(jì)（C型槽）使得測(cè)量空間寬大，樣品放置便捷，可以測(cè)量如印刷線路板類(lèi)大而平整的物品，也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。
高靈敏度的檢測(cè)器
對(duì)于復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu)，SDD系列檢測(cè)器更易分析具有類(lèi)似XRF特征的元素，具有更佳分辨率、更低的背景噪聲（最高 S/N 比），并且可以更精確地測(cè)量較薄鍍層。
自動(dòng)對(duì)焦
無(wú)論樣品厚薄或大小如何，都可在幾秒鐘內(nèi)自動(dòng)對(duì)樣品進(jìn)行對(duì)焦。可從遠(yuǎn)至80毫米的距離測(cè)量樣品，非常適合測(cè)量具有凹陷區(qū)域的零件，或者適用于測(cè)量不同高度的多個(gè)樣品。
應(yīng)用場(chǎng)景
|  連接器鍍層 |
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引線框架 |
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